当前位置:首页 > 产品中心>SDIO高效测试方案
产品中心

SDIO高效测试方案

产品介绍

SDIO高效测试方案

1.缩小测试空间 2.提高测试的稳定性 3.不会影响屏蔽箱隔离度。

规格特性

  • 用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)
  • 可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题 
  • 不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。
  • 当然,我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境,更是为了提升SDIO模块量产测试能力,甚至更容易的导入自动化。


产品规格

1.传统的SDIO测试环境,需要台式机搭配PCIe转mini PCIe的转接卡,以及较长的PCIe软扁平电缆和SDIO转换板

2.不仅影响测试稳定性,浪费空间,还破坏了屏蔽箱的隔离度,成为量产测试时的瓶颈。

3.SDIO界面的无线模块在物联网(IoT)的应用逐渐增加, 生产工厂对其功能测试的负担也明显增加。


我们的高效SDIO测试方案


1.用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)

2.可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题 

3.不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。

4.当然,我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境,更是为了提升SDIO模块量产测试能力,甚至更容易的导入自动化






推荐产品

PH-M100全自动高速编程

PH-MReel(全自动)

PH-M880(全自动)

PH-M480(全自动)

DP3000万用自动化高速烧录系统

DP1000万用自动化高速烧录系统

DP2000 自动化IC卷带烧录系统

IPS-7000全自动高速编程

elnec系列烧录器—Beeprog2

elnec系列烧录器—Beeprog3

elnec系列烧录器—BeeHive304

elnec系列烧录器—BeeHive204

elnec系列烧录器—Beeprog2C

DP600-A 自动卷带包装机

PCIE-保护卡

耦合天线

WIFI-6 PCIE 网卡测试解决方案(PCIE滤波器)

ELNEC V3.66

BeeHive208S

BeeHive204AP

BeeProg2AP

PH系列-PCIe SSD拷贝机

PE系列-PCIe SSD专用拷贝机

PX360G-PCIe SSD拷贝机

T霸TF/SD分类检测机

T霸USB分类检测机

数字电影硬盘拷贝机

金狐U盘质量检测机

銀狐Micro SD(T卡)质量检测机

DP600-M2 半自动卷带包装机

DP900自动化转包装系统

Auto Tray-250 自动托盘进出料机

烧录器配件

昂科烧录座

载带

AP8000支持列表2020B

AP8000支持列表2021A

AP8000支持列表2021B

Dediprog支持列表

AP8000支持列表2019A

AP8000支持列表2019B

AP8000支持列表2020A

Minato支持列表

WLCSP烧录

AP8000支持列表2018

无线多路测试方案

WiFi非信令测试方案

MP5000CL Wi-Fi 非信令测试方案

MTS8400自动化

SDIO模组自动测试系统

SDIO高效测试方案

BLE量产测试方案

FCT量产测试

LED测试方案

HS52-60-55-RG-ZL01

电声测试方案

1对4蓝牙功能测试方案

3838

H550

自动屏蔽箱系列:CT3540

自动屏蔽箱系列:V5901C

自动屏蔽箱系列: HV2640

自动屏蔽箱系列:AD2636

AD4242

CT4550

AHD5050

SD4855

HD5832

A4040

Wi-Fi 6 信令测试方案

ELNEC V3.59

手动式:HD2742

手动式:H4852

屏蔽柜:电磁屏蔽机柜

MT-1040

UT-804

喇叭天线

衰减器

高频针CLP1998-S

CLP-200

发射源,信号源

SDIO转接卡

MP5000CL

CLP-AN0760

高频针

射频线

CH-93026A

吸波材料

滤波器

MT-1000

FAST5280CH

功能测试治具

手动治具

气动治具

旋转台TT-200

Final

RC405

BLE121

气动治具